1. Advanced calculations for defects in materials
پدیدآورنده : / edited by Audrius Alkauskas ...[et al]
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Materials, Testing, Mathematical models,Semiconductors, Materials, Testing
رده :
TA410
.
A379
2011
2. Advanced calculations for defects in materials : electronic structure methods
پدیدآورنده : edited by Audrius Alkauskas ...]et al[
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Testing Mathematical models ، Materials,Materials Testing ، Semiconductors
رده :
TA
410
.
A379
2011
3. Beam injection assessment of defects in semiconductors
پدیدآورنده : / edited by M. Kittler...(et al)
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Semiconductors- Defects- Congresses,Semiconductors- Defects- Testing
رده :
QC10
.
J1I421
1998
4. Debye Screening Length.
پدیدآورنده : \ Kamakhya Prasad Ghatak, Sitangshu Bhattacharya
کتابخانه: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)
موضوع : Nanostructured materials,موادنانوساختار,a01,a01,Semiconductors -- Testing -- Optical methods.,Thomas-Fermi theory,نیمه‌هادی‌ها -- آزمایش -- روش های نوری
رده :
TA
418
.
9
.
G46D4
2014
E-Book
,
5. Defect oriented testing for nano metric CMOS vlsi circuits
پدیدآورنده : Sachdev, Manoj.
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : ، Metal oxide semiconductors, Complementary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complementary- Defects
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
S23
2007
6. Electrical characterization of GaAs materials and devices
پدیدآورنده : Look, D. C. )David C.(, 8391-
موضوع : ، Gallium arsenide semiconductors- Testing,، Magnetoresistance
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
7. Electrical characterization of GaAs materials and devices
پدیدآورنده : Look, David C.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Testing ، Gallium arsenide semiconductors,Magnetoresistance
رده :
TK
7871
.
15
.
G3
L66
1989
8. Failure analysis of integrated circuits :tools and techniques
پدیدآورنده : edited by Lawrence C. Wagner
کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)
موضوع : Failures ، Semiconductors,Testing ، Integrated circuits,Reliability ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
9. Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques
پدیدآورنده : edited by Lawrence C. Wagner
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Semiconductors - Failures , Integrated circuits - Testing , Integrated circuits - Reliability
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
10. Handbook of solid-state troubleshooting
پدیدآورنده : Herrick, Clyde N.
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Semiconductors-- Testing,، Electronic apparatus and appliances-- Maintenance and repair
رده :
TK
7871
.
85
.
H47
11. Handbook of solid-state troubleshooting
پدیدآورنده : Herrick, Clyde N.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Testing ، Semiconductors,Maintenance and reprint ، Electronic apparatus and appliances
رده :
TK
7871
.
85
.
H47
12. ICMTS 93 : proceedings of the 1993 International Conference on Microelectronic Test Structures: March 22-25, 1993, Sitges, Barcelona, Spain
پدیدآورنده : sponsored by the IEEE Electron Devices Society
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Integrated circuits - Testing - Congresses , Semiconductors - Testing - Congresses , Transistors - Testing - Congresses
رده :
TK
7874
.
I3233
1993
13. IDDQ testing of VLSI circuits
پدیدآورنده : edited by Ravi K. Gulati and Charles F. Hawkins
موضوع : Integrated circuits - Very large scale integration - Testing,Metal oxide semiconductors, Complementary - Testing,Iddq testing
۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.
14. 2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing, April 30, 2000, Montreal, Canada
پدیدآورنده : sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee; edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع : Testing -- Congresses ، Metal oxide semiconductors, Complementary,Congresses ، Iddq testing,Defects -- Congresses ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
99
.
M44
2000
15. Integrated circuit failure analysis: a guide to preparation techniques
پدیدآورنده : Beck, Friedrich
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)
موضوع : ، Semiconductors- Failures,، Semiconductors_ Testing
رده :
TK
7871
.
852
.
B43
16. Integrated circuit manufacturability
پدیدآورنده : edited by Josae Pineda de Gyvez, Dhiraj Pradhan
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (آذربایجان شرقی)
موضوع : Integrated circuits, Computer-aided design,Metal oxide semiconductors, Complementary, Computer-aided design,Integrated circuits, Testing
رده :
TK
,
7874
,.
I4713
17. Integrated circuit manufacturability:the art of process and design integration
پدیدآورنده :
کتابخانه: کتابخانه مرکزی پردیس 1 فنی دانشگاه تهران (تهران)
موضوع : Integrated circuits - Design and construction-Data processing-Statistical methods,Metal oxid semiconductors compiementary-design and construction,Computer - Aided design,Integrated circuits - Testing
رده :
TK
7874
.
I4713
1998
18. Lock-in thermograph
پدیدآورنده : / O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Electronic apparatus and appliances, Thermal properties,Electronic apparatus and appliances, Testing,Semiconductors, Thermal properties,Thermography,Electronic books
رده :
TK7870
.
25
.
B74
2010
19. Lock-in thermography
پدیدآورنده : O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اطلاع رسانی دانشگاه شاهد (تهران)
موضوع : Electronic apparatus and appliances, Thermal properties,Electronic apparatus and appliances, Testing,Semiconductors, Thermal properties,Thermography
رده :
TK
،
7870
.
25
،.
B74
،
2010
20. Lock-in thermography
پدیدآورنده : O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp.
کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبانهای اروپایی (قم)
موضوع : Electronic apparatus and appliances-- Testing.,Electronic apparatus and appliances-- Thermal properties.,Semiconductors-- Thermal properties.,Thermography.
رده :
TK7870
.
25
.
B74
2010eb
